在分析实验室中，使用上海析谱TU1810plus和分光光度法测定铁含量是常见且重要的分析项目。然而，许多实验人员在使用邻二氮菲分光光度法测铁时，常常低估了一个关键干扰因素——铜离子（Cu²⁺）的干扰作用。

使用上海析谱TU1810plus测量铁离子浓度时，如果样品中存在铜离子，即使浓度不高，也会与显色剂邻二氮菲发生反应，生成在510nm处有吸收的络合物，直接导致吸光度读数增高，造成铁测定结果假性偏高。

从上表可以看出，随着铜离子浓度的增加，铁测定结果的偏差显著增大。

三种解决方案

一、EDTA掩蔽法（推荐）

在加入显色剂之前，先加入0.1mol/L的EDTA溶液1-2mL。EDTA与Cu²⁺的络合稳定常数(logK=18.8)远高于与Fe²⁺的(logK=14.3)，能有效掩蔽铜离子干扰。

二、硫脲掩蔽法

硫脲也能与铜离子形成稳定络合物，达到掩蔽效果。该方法对显色体系影响较小。

三、标准加入法

对于成分复杂的样品，可采用标准加入法，通过绘制标准曲线来消除基质干扰。

实验建议：避免踩坑的关键点

1. 预判干扰：实验前了解样品中可能存在的干扰离子

2. 规范操作：严格按照方法顺序添加试剂（先加掩蔽剂，后加显色剂）

3. 同步处理：标准曲线与样品需同步加入等量掩蔽剂

4. 方法验证：通过加标回收实验验证方法准确性